LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，業(yè)界稱為“光照和高溫誘導(dǎo)衰減”，或者叫“光熱衰減”。名稱有些拗口，但是值得大家花些時(shí)間去了解它，因?yàn)樗鼤?huì)極大地影響你的太陽(yáng)能組件和電站發(fā)電性能。

光伏行業(yè)對(duì)LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰減”現(xiàn)象已經(jīng)很了解。通常情況下，只要光伏組件暴露在陽(yáng)光下就會(huì)發(fā)生LID(光致衰減)，在短時(shí)間(幾天或幾周)內(nèi)就能達(dá)到飽和的衰減。行業(yè)對(duì)于LID(光致衰減)的研究也已經(jīng)非常充分，產(chǎn)生機(jī)制也獲得一致認(rèn)可，主要是硅材料內(nèi)的硼氧缺陷。因?yàn)榫w生長(zhǎng)方法的差異，單晶硅材料內(nèi)間隙氧含量遠(yuǎn)高于多晶，從而LID衰減也遠(yuǎn)高于多晶。兩到三年前PERC技術(shù)的推廣還受限于LID(光致衰減)，隨著抗LID衰減技術(shù)的突破使LID得到比較有效的控制，加之設(shè)備的廣泛應(yīng)用，PERC技術(shù)得以大規(guī)模導(dǎo)入。

然而LeTID衰減機(jī)制不同，它通常發(fā)生在光照和高溫(> 50°C)兩個(gè)條件同時(shí)滿足的情況下，并且LeTID對(duì)于PERC組件的發(fā)電量影響很大。PERC組件在實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試條件和電站實(shí)際工作環(huán)境中都存在LeTID(光熱衰減)現(xiàn)象。在組件工作溫度超過50°C時(shí)，不論是單晶還是多晶PERC組件都會(huì)發(fā)生LeTID(光熱衰減)，衰減率最高可達(dá)10%。

文章來源：阿特斯