尚德太陽能電力控股有限公司日前宣布，其 Wd 多晶、Wd 單晶和 Ve 多晶系列元件在近期與世界權(quán)威的 VDE 測試機構(gòu)合作的協(xié)力廠商測試中表現(xiàn)出良好的抗 PID（電勢誘導(dǎo)衰減）特性。

根據(jù) VDE 的測試報告，參與測試的尚德元件產(chǎn)品在一系列的測試之后沒有出現(xiàn)較大的功率衰減。此次的所有組件在實驗室測試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化，其外觀也沒有發(fā)生任何變化。
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該項嚴(yán)格的測試流程是基于 TUV Rhineland 根據(jù) PID 現(xiàn)象進(jìn)行開發(fā)的測試方法。首先，對元件進(jìn)行功率測試和EL圖片測試；其次,組件在高濕和負(fù) 1000V 電壓環(huán)境下持續(xù)一周進(jìn)行測試；最終對組件進(jìn)行功率測試和 EL 圖片以檢測其可能出現(xiàn)的缺陷。
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由于太陽能系統(tǒng)在不同的環(huán)境下高電勢對組件的持續(xù)作用，會加速組件產(chǎn)品的功率衰減。通過對原材料的仔細(xì)篩選、制造工藝的優(yōu)化、良好的品質(zhì)控制，尚德極大的降低了由于 PID 帶來的組件功率損失風(fēng)險。