太陽能設備商奇裕暨奇元裕公司與AET Technologies共同于今年SNEC展籌辦研討會，針對LID光衰問題提出解決方案。借由快速含氧量檢測，可幫助外延片與電池廠商提升產品品質，對抗LID。

研討會中，除了有AET Technologies所屬的AET Solar Tech技術專家分享氧含量檢測技術及最新即時檢測機臺設備Oxymap之外，也特別邀請到法國太陽能機構(INES) 的首席研究專家說明快速量測氧含量的原理及掌握LID 光衰減的運用。此外，會中還深入探討此一含氧檢測技術實際運用在AL-BSF & PERC的情形。不少外延片制造及電池片重要業(yè)者出席，現場十分熱烈。

近年來太陽能市場持續(xù)成長，在全世界市場需求的推動下，各家廠商紛紛投入資源開發(fā)新一代技術。然而對電池片制造商而言，取得有品質保障的外延片往往受限于現有檢測技術與不利條件，例如特制的受測樣本及長久的檢測時間等。隨著PERC的興起，LID光衰減的議題也愈受重視，有鑑于此，對外延片中氧含量的快速有效檢測變得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 設備則可以直接檢測量產外延片的氧含量并精準掌握LID光衰表現，未來期待能協助業(yè)界掌握外延片品質，加強LID光衰減及LIR光還原的工藝開發(fā)。

奇裕暨奇元裕公司大中華區(qū)總經理簡聰明說：“感謝AET Technologies與奇裕公司一同介紹先進技術方案給予大中華區(qū)客戶。其Oxymap 氧含量檢測技術，肯定能協助客戶了解如何改善其產品及技術，進而提供高效產品；奇裕將持續(xù)提供客戶全方位的技術支援，并滿足客戶多元化的需求?！?/p>