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晶科能源力推熱輔助光致衰減測(cè)試新標(biāo)準(zhǔn) P型單晶PERC電池效率僅下降約1％

作者: | 發(fā)布日期: 2019 年 02 月 01 日 10:16 | 分類: 產(chǎn)業(yè)資訊

“硅基組件超級(jí)聯(lián)盟”領(lǐng)軍成員晶科能源使用了熱輔助光致衰減測(cè)試新標(biāo)準(zhǔn)以將P型單晶PERC和N型單晶電池的性能損耗降至最低。晶科能源的這一做法取得了成功。

晶科能源表示，由于公司專注于降低P型單晶PERC和N型單晶硅片中的氧含量和金屬含量以減輕熱輔助光致衰減造成的影響，公司的P型單晶PERC電池效率僅下降了約1％，而N型單晶電池效率僅下降了0.2％。

這些測(cè)試使用了新方法。即將出臺(tái)的IEC 63202-1標(biāo)準(zhǔn)納入了這些新方法，包括在75℃、1000W/m2和500h測(cè)試時(shí)間條件下對(duì)太陽能電池進(jìn)行的測(cè)試。測(cè)試由風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)質(zhì)量測(cè)試中心、IEE和CAS實(shí)施。

晶科能源副總裁金浩博士表示：“組件的熱輔助光致衰減是由于太陽能電池的衰減造成的，包括電池的光致衰減和熱輔助光致衰減。測(cè)試使用了標(biāo)準(zhǔn)中參考的室外測(cè)試方法。單晶產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果足以表明晶科能源為研發(fā)持續(xù)投入了大筆資金?！?/p>

金博士是IEC 63202-1標(biāo)準(zhǔn)主編和IEC/TC82標(biāo)準(zhǔn)工作組主席。晶科能源表示，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)也通過了兩家權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)VDE和Intertek的驗(yàn)證。

來源： Mark Osborne PV-Tech

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