“硅基組件超級聯(lián)盟”領軍成員晶科能源使用了熱輔助光致衰減測試新標準以將P型單晶PERC和N型單晶電池的性能損耗降至最低。晶科能源的這一做法取得了成功。

晶科能源表示，由于公司專注于降低P型單晶PERC和N型單晶硅片中的氧含量和金屬含量以減輕熱輔助光致衰減造成的影響，公司的P型單晶PERC電池效率僅下降了約1％，而N型單晶電池效率僅下降了0.2％。

這些測試使用了新方法。即將出臺的IEC 63202-1標準納入了這些新方法，包括在75℃、1000W/m2和500h測試時間條件下對太陽能電池進行的測試。測試由風力發(fā)電系統(tǒng)質量測試中心、IEE和CAS實施。

晶科能源副總裁金浩博士表示：“組件的熱輔助光致衰減是由于太陽能電池的衰減造成的，包括電池的光致衰減和熱輔助光致衰減。測試使用了標準中參考的室外測試方法。單晶產(chǎn)品的測試結果足以表明晶科能源為研發(fā)持續(xù)投入了大筆資金?！?/p>

金博士是IEC 63202-1標準主編和IEC/TC82標準工作組主席。晶科能源表示，相關標準也通過了兩家權威認證機構VDE和Intertek的驗證。

來源： Mark Osborne PV-Tech